Sm(Fe1-xRux)As(O0.85F0.15) 体系的结构研究：同步辐射 X 射线粉末衍射研究

A. Martinelli

doi:10.1088/1361-6668/aaf022

Sm(Fe1-xRux)As(O0.85F0.15) 体系的结构研究：同步辐射 X 射线粉末衍射研究

超导电性 2018-11-16 v1

作者: A. Martinelli

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摘要

在 10 K 至 300 K 之间，利用高分辨率同步辐射 X 射线粉末衍射研究了 Sm(Fe1-xRux)As(O0.85F0.15) 体系的结构与微结构性质。四方到正交的结构转变温度随 Ru 含量的增加而降低，并在 x ~ 0.38 附近对称性破缺被完全抑制。通过将本结果与先前的磁性和电阻测量相结合，绘制出了 Sm(Fe1-xRux)As(O0.85F0.15) 体系的相图。

关键词

同步辐射 X 射线粉末衍射 Sm(Fe1-xRux)As(O0.85F0.15) 结构转变相图超导性

引用

@article{arxiv.1811.06063,
  title  = {Structural investigation of the Sm(Fe1-xRux)As(O0.85F0.15) system: a synchrotron X-ray powder diffraction study},
  author = {A. Martinelli},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1811.06063},
  year   = {2018}
}

备注

to be published in "Superconductor Science and Technology"

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