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Cr 掺杂 BaFe2As2 中结构相变的高分辨率 X 射线散射研究

强关联电子 2012-03-06 v2 超导电性

摘要

我们对 Ba(Fe(1-x)Cr(x))2As2(x = 0 至 0.335)单晶样品进行了高分辨率 X 射线散射测量。这些测量研究了 Cr 掺杂对母体化合物 BaFe2As2 的高温四方相(I4/mmm)到低温正交相(Fmmm)结构相变的影响。发现增加 Cr 浓度会抑制结构转变温度(Ts),并减小正交应变(δ)的大小。正交应变的掺杂依赖性,结合高温磁化率的补充测量,表明在 x ∼ 0.05 处存在磁结构交叉。特别是,这种交叉似乎标志着从强正交性到弱正交性以及从主要巡游磁行为到局域磁行为的转变。

关键词

引用

@article{arxiv.1106.6339,
  title  = {High resolution x-ray scattering studies of structural phase transitions in Cr-doped BaFe2As2},
  author = {J. P. Clancy and B. D. Gaulin and A. S. Sefat},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1106.6339},
  year   = {2012}
}

备注

Revised Version. 10 pages, 7 Figures