Sm2MgMnO6 的结构与介电表征
材料科学
2017-07-03 v1
摘要
多晶 Sm2MgMnO6 (SMMO) 于 1173 K 通过溶胶-凝胶技术合成。X射线衍射 (XRD) 图谱的 Rietveld 精修确认了空间群 P21/n 的单相单斜结构形成。由紫外-可见光谱获得的带隙显示了材料的半导体性质。为观察晶粒和晶界在传导过程中的效应，在 313 K 至 673 K 间的不同频率下对 SMMO 样品进行了介电弛豫测量。采用由电阻和恒相位元件组成的等效电路来阐明阻抗数据。
引用
@article{arxiv.1706.10038,
title = {Structural and dielectric characterization of Sm2MgMnO6},
author = {Moumin Rudra and Ritwik Maity and T. P. Sinha},
journal= {arXiv preprint arXiv:1706.10038},
year = {2017}
}
备注
5 pages, 5 figures, 2 tables