超越高Q极限的强耦合及多激子平面微腔中的 linewidth 窄化
光学
2026-03-18 v2 介观与纳米尺度物理
摘要
我们系统性地研究了多能级激子极化子模式在平面混合微腔（Q~300）中作为 detuning 函数的 linewidth 行为，实验处于线性光学响应 regime。利用光学反射率测量，我们发现尽管直觉上可能认为 linewidth 应随 detuning 增加而增大，但实际上当 detuning 减小时，极化子模式的 linewidth 会发生显著的光谱窄化。通过将实验结果与三种常用的恒定损耗理论模型进行基准比较，我们发现该行为仅部分得到再现，这凸显了应用于非标准微腔结构时常规强耦合模型的局限性。我们的结果表明，频率相关的自能效应或相关耗散机制——通常在简化处理中被忽略——可能发挥重要作用。
关键词
引用
@article{arxiv.2510.22163,
title = {Strong Coupling beyond the High-Q Limit and Linewidth Narrowing in a Multi-Exciton Planar Microcavity},
author = {E. A. Cerda-Méndez and Y. G. Rubo and K. Biermann and A. Camacho-Guardian and A. S. Kuznetsov and P. V. Santos},
journal= {arXiv preprint arXiv:2510.22163},
year = {2026}
}
备注
11 pages, 8 figures. Submitted to Physical Review Applied (Letter). \c{opyright} 2025 The Authors. Licensed to arXiv under a perpetual, non-exclusive license