掺杂反亚金属中条纹构型与相关长度
强关联电子
2009-10-31 v9 超导电性
摘要
在掺杂反亚金属中的条纹构型中,我们发现自旋相关长度与电荷相关长度之比 提供了一种判断系统主导杂乱形式的明确标准。如果条纹构型的杂乱由拓扑缺陷控制,则 。相反,如果条纹相关构型主要由非拓扑弹性变形(即布拉格-葛拉斯类型杂乱)引起,则预期得到 。因此,观察到 中 以及 中 ,必然意味着条纹处于布拉格-葛拉斯状态,拓扑缺陷的重要性远高于常规假设。文中讨论了预期的谱系特性。因此,我们为对这些材料中实验观察到的玻璃态进行理论分析奠定了基础。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9911171,
title = {Stripes Disorder and Correlation lengths in doped antiferromagnets},
author = {Oron Zachar},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9911171},
year = {2009}
}
备注
4 pages, 2 figures