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掺杂反亚金属中条纹构型与相关长度

强关联电子 2009-10-31 v9 超导电性

摘要

在掺杂反亚金属中的条纹构型中,我们发现自旋相关长度与电荷相关长度之比 ξs/ξc\xi_{s}/\xi_{c} 提供了一种判断系统主导杂乱形式的明确标准。如果条纹构型的杂乱由拓扑缺陷控制,则 ξs/ξc1\xi_{s}/\xi_{c}\lesssim 1。相反,如果条纹相关构型主要由非拓扑弹性变形(即布拉格-葛拉斯类型杂乱)引起,则预期得到 1<ξs/ξc41<\xi _{s}/\xi_{c}\lesssim 4。因此,观察到 (LaNd)2xSrxCuO4(LaNd)_{2-x}Sr_{x}CuO_{4}ξs/ξc4\xi _{s}/\xi_{c}\approx 4 以及 La2/3Sr1/3NiO4La_{2/3}Sr_{1/3}NiO_{4}ξs/ξc3\xi_{s}/\xi _{c}\approx 3,必然意味着条纹处于布拉格-葛拉斯状态,拓扑缺陷的重要性远高于常规假设。文中讨论了预期的谱系特性。因此,我们为对这些材料中实验观察到的玻璃态进行理论分析奠定了基础。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/9911171,
  title  = {Stripes Disorder and Correlation lengths in doped antiferromagnets},
  author = {Oron Zachar},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9911171},
  year   = {2009}
}

备注

4 pages, 2 figures