原子探针测绘中随机离子发射扰动机制：将模拟与实验联系起来
材料科学
2026-02-03 v2
摘要
原子探针测绘（APT）中的场蒸发包括与原子表面迁移有关的已知过程，如所谓的卷曲机制。它们导致探测器上的轨迹畸变和伪影。这些过程通常在模拟中被忽略。将此类过程纳入模拟对于提供可靠的模型以开发和验证 APT 重建算法至关重要，这是整个方法论的关键部分。本文将随机横向速度扰动和卷曲机制纳入使用 Robin--Rolland 模型进行的模拟。通过与 Al 和 Ni 系统的实验数据进行比较，我们找到能够非常准确再现实验所见探测器图案的随机扰动能量分布，从而大幅提高了模拟的准确性。我们还探讨了实验和模拟探测器图案之间剩余差异的可能原因。
引用
@article{arxiv.2509.13744,
title = {Stochastic ion emission perturbation mechanisms in atom probe tomography: Linking simulations to experiment},
author = {Aslam Shaikh and Tero Mäkinen and François Vurpillot and Mikko Alava and Ivan Lomakin},
journal= {arXiv preprint arXiv:2509.13744},
year = {2026}
}