经受循环剪切的二维颗粒材料的统计特性

本工作聚焦于一个经受多次纯剪切循环的二维光弹颗粒实验系统中结构与应力的演化。在整个过程中，我们利用颗粒追踪和光弹技术确定了接触网络和接触力。这些数据提供了组构张量和应力张量，以及法向和切向方向上的接触力分布。然后我们发现，系统压力$P$与平均接触数$Z$之间存在一个合理近似的函数关系。该关系也适用于剪切应力$\tau$，但在接触网络反转的紧邻应变区域除外。相比之下，诸如$P$、$\tau$和$Z$等量是应变$\epsilon$的强滞回函数。我们发现，当用法向和切向力的相应均值表示时，其分布本质上与应变无关。最后，我们根据强力和弱力网络分析了一组剪切数据子集。