染色体内部接触图谱的统计模型
基因组学
2013-12-02 v1 生物大分子
摘要
在具有淬火无序一级序列的异聚物链分级卷曲模型框架下，描述了通过全基因组染色体构象捕获方法（Hi-C）获得的染色体内部接触图谱的统计性质。我们推测，观测到的 Hi-C 图谱是许多不同分级基因组折叠方式的统计平均，并表明淬火一级结构的存在与分级折叠相结合可以诱导产生观测到的染色体内部接触图谱的精细结构。
引用
@article{arxiv.1311.7689,
title = {Statistical model of intra-chromosome contact maps},
author = {L. Nazarov and M. V. Tamm and S. K. Nechaev and V. A. Avetisov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1311.7689},
year = {2013}
}
备注
5 pages, 4 figures