半导体量子点系综时间分辨发射的统计分析:指数衰减模型的解释
光学
2007-05-23 v2 数据分析、统计与概率
摘要
我们对来自发射体系综(如半导体量子点)的时间分辨自发发射衰减曲线进行了统计分析,旨在解释普遍存在的非单指数衰减。与广泛假设的相反,激发发射体的密度和发射衰减曲线中的强度不成比例,但密度是强度的时间积分。积分关系对于正确解释非单指数衰减至关重要。我们为离散和连续的速率分布推导了适当的归一化,其中每个衰减分量都乘以其辐射衰减速率。我们论文的一个核心结果是推导了在辐射和非辐射衰减独立分布情况下的发射衰减曲线。在这种情况下,众所周知的发射量子效率不能再用一个单一数字表示,而是也是分布的。我们推导了非单指数发射衰减曲线的实用描述,用单个衰减速率分布表示;所得分布被确定为总衰减速率分布以辐射速率加权。我们将我们的分析应用于胶体量子点在悬浮液和光子晶体中发射的近期例子,发现这类重要的发射体很好地由对数正态衰减速率分布描述,分别具有窄和宽的分布。最后,我们简要讨论了Kohlrausch拉伸指数模型,并发现其归一化对于量子效率低于100%的现实发射体是定义不清的。
引用
@article{arxiv.physics/0607043,
title = {Statistical analysis of time-resolved emission from ensembles of semiconductor quantum dots: interpretation of exponential decay models},
author = {A. F. van Driel and I. S. Nikolaev and P. Vergeer and P. Lodahl and D. Vanmaekelbergh and W. L. Vos},
journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0607043},
year = {2007}
}
备注
18 pages, 5 figures; revised order of presentation