基于 SQUID 的电阻桥用于低阻抗样品的散粒噪声测量
介观与纳米尺度物理
2007-05-23 v2
摘要
我们 presented 一种利用 SQUID 测量低阻抗样品散粒噪声的电阻桥。实验要求为高直流偏置电流（通常为10 mA）以及高交流灵敏度（pA/VHz）。该系统用于探讨 Superconductor/Normal/Superconductor 结合物中的散粒噪声，预期会观察到因 Andreev 反射而增强的散粒噪声。由于该装置的内在噪声远小于在4.2 K时的电阻桥热噪声，可在经典测量方案的范围之外获得可靠结果。
关键词
引用
@article{arxiv.cond-mat/9901090,
title = {SQUID based resistance bridge for shot noise measurement on low impedance samples},
author = {X. Jehl and P. Payet-Burin and C. Baraduc and R. Calemczuk and M. Sanquer},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9901090},
year = {2007}
}
备注
4 pages, revtex, to appear in Rev. Sci. Instr (scheduled june 99)