Cu/Py横向自旋阀中通过Kondo散射的自旋弛豫
介观与纳米尺度物理
2016-01-20 v3
摘要
自旋扩散长度的温度依赖通常反映了导致自旋弛豫的散射机制。在非磁性金属内，有理由预期Elliot-Yafet机制发挥作用，因此自旋扩散长度的温度依赖性可能与电阻率成反比。在横向自旋阀测量中已发现，低温下自旋扩散长度意外减小。通过测量采用不同纯度Cu制备的横向Py/Cu/Py自旋阀的输运性质，我们提取出自旋扩散长度，其仅当存在Kondo效应时在30 K以下表现出此种抑制。我们计算了自旋弛豫率并分离出磁性杂质的贡献。我们发现磁性杂质的自旋翻转概率为34%。我们的半定量分析证明了Kondo散射在自旋弛豫中的主导作用，即使在低至1 p.p.m.量级的浓度下亦如此，从而解释了我们自己及他人观测到的自旋扩散长度的降低。
引用
@article{arxiv.1504.07515,
title = {Spin relaxation through Kondo scattering in Cu/Py lateral spin valves},
author = {J. T. Batley and M. C. Rosamond and M. Ali and E. H. Linfield and G. Burnell and B. J. Hickey},
journal= {arXiv preprint arXiv:1504.07515},
year = {2016}
}