缺陷对铜纳米线中自旋弛豫的贡献
介观与纳米尺度物理
2013-04-04 v2
摘要
通过仔细分析横向自旋阀中电荷和自旋输运随温度和厚度的测量结果，量化了铜纳米线中自旋弛豫的贡献。自旋翻转散射的温度依赖性完全源于与声子的散射，与块体铜中一致，而晶界被识别为纳米线中缺陷的主要温度无关贡献。发现铜在低温下的自旋扩散长度存在一个令人费解的最大值，这可以通过磁性杂质的存在来解释。本文提出的结果为改善金属纳米结构中的自旋输运提供了途径，否则这些输运会受到限制效应的制约。
引用
@article{arxiv.1212.2353,
title = {Contribution of defects to the spin relaxation in copper nanowires},
author = {Estitxu Villamor and Miren Isasa and Luis E. Hueso and Fèlix Casanova},
journal= {arXiv preprint arXiv:1212.2353},
year = {2013}
}
备注
10 pages, 4 figures, 1 table