利用宽带铁磁共振谱检测硅中的自旋注入
加速器物理
2017-07-14 v1 材料科学
其他凝聚态物理
应用物理
摘要
我们利用宽带铁磁共振谱研究了NiFe(Py)/Si体系中的自旋注入。确定了位于Si沟道之上的Py层的Gilbert阻尼参数随Si掺杂浓度和Py层厚度的变化关系。对于固定的Py厚度，我们观察到Gilbert阻尼参数随Si沟道电阻率降低而增加。对于固定的Si掺杂浓度，我们测得Gilbert阻尼参数随Py层厚度减小而增加。在具有绝缘中间层的Py/Si样品中未发现Gilbert阻尼参数的增加。我们将观测结果归因于通过自旋泵浦增强了对低电阻率Si的自旋注入。
引用
@article{arxiv.1704.07006,
title = {Spin injection into silicon detected by broadband ferromagnetic resonance spectroscopy},
author = {Ryo Ohshima and Stefan Klingler and Sergey Dushenko and Yuichiro Ando and Mathias Weiler and Hans Huebl and Teruya Shinjo and Sebastian T. B. Goennenwein and Masashi Shiraishi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1704.07006},
year = {2017}
}
备注
15 pages, 3 Figures, 2 Tables (to appear Applied Physics Letters)