拓扑绝缘体薄膜中的镜面 Andreev 反射
介观与纳米尺度物理
2016-05-05 v3
摘要
我们在理论上揭示了在栅电场存在的薄膜拓扑绝缘体正常-超导（N/S）结中出现镜面 Andreev 反射的可能性。镜面 Andreev 反射的概率随电场增大而增加，并且电子-空穴转换以单位效率在较宽的可实验达到的电场范围内发生。我们表明，对于特定激发能量值，所有入射角均可发生完美的镜面 Andreev 反射。此外，我们发现该结构的热导对温度呈现指数依赖。我们的结果揭示了所提出的基于拓扑绝缘体薄膜的 N/S 结构在实现带内镜面 Andreev 反射方面的潜力。
引用
@article{arxiv.1511.09221,
title = {Specular Andreev reflection in thin films of topological insulators},
author = {Leyla Majidi and Reza Asgari},
journal= {arXiv preprint arXiv:1511.09221},
year = {2016}
}
备注
10 pages, 9 figures. Some typos are corrected