石墨烯中无质量能隙打开的光谱特征
介观与纳米尺度物理
2008-10-03 v1 材料科学
摘要
石墨烯中的能隙打开通常被讨论为类半导体谱，其中狄拉克点处有限能隙的出现伴随着费米子的有限质量。在本文中，我们提出了一种保留载流子无质量特性的石墨烯能隙情景。该方法解释了最近在外延生长石墨烯中进行的光谱测量，范围涵盖从光发射到光学透射。
引用
@article{arxiv.0804.2192,
title = {Spectroscopic Signatures of Massless Gap Opening in Graphene},
author = {L. Benfatto and E. Cappelluti},
journal= {arXiv preprint arXiv:0804.2192},
year = {2008}
}