基于多标签学习的特定多辐射源识别
信号处理
2025-09-29 v1
摘要
特定辐射源识别利用硬件引起的损伤来唯一确定一个特定的发射器。然而，现有方法未能解决来自多个辐射源的信号重叠的场景。在本文中，我们提出了一种通过多标签学习来确定多个发射器的特定多辐射源识别（SMEI）方法。具体来说，我们设计了多辐射源指纹提取器以减轻重叠信号间的相互干扰。然后，提出了多辐射源决策器，利用先前提取的指纹来分配所有辐射源的识别结果。实验结果表明，与基线方法相比，所提出的SMEI方案在各种重叠条件下实现了可比的识别精度，同时运行复杂度显著降低。本文的意义在于以低复杂度从重叠信号中识别多个辐射源。
引用
@article{arxiv.2509.22396,
title = {Specific multi-emitter identification via multi-label learning},
author = {Yuhao Chen and Boxiang He and Shilian Wang and Jing Lei},
journal= {arXiv preprint arXiv:2509.22396},
year = {2025}
}