双面硅微strip 检测器的空间分辨率——PAMELA 装置
高能物理 - 实验
2016-08-31 v1
摘要
PAMELA 装置已组装并准备在卫星任务中发射，主要研究宇宙射线的反粒子成分。在本文中，介绍了用于磁光谱仪的硅微strip 检测器所获得的性能。该子检测器通过产生的永久磁场中的电荷粒子曲率来重构，从而以极高精度确定动量和电荷符号（小于 3 微米的弯曲坐标上的位置测量精度）。为探讨传感器特性，开发了完整的硅微strip 检测器仿真。随后将仿真事件与去年年从最小离子化粒子束所收集的数据进行比较，以校准仿真模型的自由参数。最后应用一些广泛使用或原创的位置寻找算法，用于此类检测器，处理不同入射角度的事件。分析结果表明，可根据粒子入射角和簇数目选择合适的影响点重建方法，以最大化对反粒子标记器的能力。
关键词
引用
@article{arxiv.hep-ex/0510012,
title = {Spatial Resolution of Double-Sided Silicon Microstrip Detectors for the PAMELA Apparatus},
author = {S. Straulino and O. Adriani and L. Bonechi and M. Bongi and S. Bottai and G. Castellini and D. Fedele and M. Grandi and P. Papini and S. B. Ricciarini and P. Spillantini and F. Taccetti and E. Taddei and E. Vannuccini},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/0510012},
year = {2016}
}
备注
28 pages, 18 figures, submitted to Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A