Hitomi (ASTRO-H) 搭载的软X射线成像仪

软X射线成像仪（SXI）是Hitomi X射线天文台搭载的使用电荷耦合器件（CCD）的成像光谱仪。SXI传感器具有四个成像区域尺寸为$31~{\rm mm} \times 31~{\rm mm}$的CCD，以$2 \times 2$阵列排布。结合X射线镜（软X射线望远镜），SXI探测$0.4~{\rm keV}$至$12~{\rm keV}$之间的X射线，并覆盖$38^{\prime} \times 38^{\prime}$视场。这些CCD为P沟道全耗尽背照式，耗尽层厚度为$200~\mu{\rm m}$。采用低至$-120~^\circ{\rm C}$的低工作温度以及电荷注入，以降低CCD的电荷转移不完善性。SXI的功能与性能已在地面测试中验证。测得对$5.9~{\rm keV}$ X射线的能量分辨率为半高全宽$161$-$170~{\rm eV}$。在测试中，我们发现某些区域的CTI明显更高。我们发展了一种方法来妥善处理这种位置相关的CTI。我们发现的另一个问题是CCD入射面上用于阻挡光学光的Al镀层存在针孔。阻挡污染物滤光片的Al厚度被增加，以充分阻挡光学光。