基于自组织氧化铝的高效高分辨率 X 射线传感器的模拟研究
仪器与探测器
2015-06-03 v1
摘要
最先进的 X 射线成像传感器在可实现的效率与空间分辨率之间存在权衡。为了克服此类限制，人们研究了使用结构化和填充闪烁体的氧化铝 (AlOx) 基质。我们使用 Monte-Carlo (MC) X 射线模拟来确定这些 AlOx 基质的 X 射线成像质量。影响基质行为的重要因素包括：填充因子（通道与“封闭”AlOx 之间的表面比）、通道直径、纵横比、填充材料等。因此，我们使用 MC X 射线模拟工具 ROSI [1] 以多种不同方式对多孔 AlOx 基质进行了建模，并评估了其性能，以研究在不同 X 射线能谱、不同填充材料（即闪烁体）以及不同通道高度和像素读出下的可实现性能。本文重点关注量子效率、空间分辨率和图像均匀性。
引用
@article{arxiv.1201.4660,
title = {Simulation study of a highly efficient, high resolution X-ry sensor based on self-organizing aluminum oxide},
author = {Joerg Muehlbauer and Frank Sukowski and Nils Reims and Peter Krueger and Juergen Schreiber and Nikolai I. Mukhurov and Norman Uhlmann},
journal= {arXiv preprint arXiv:1201.4660},
year = {2015}
}