符号相位掩模微分显微术
光学
2023-10-11 v2
摘要
我们提出并实验演示了一种微分显微方法，可在单一实验构型中获得振幅、相位和定量偏振梯度成像。通过在标准 4-f 成像系统的傅里叶平面放置一片玻璃盖玻片作为 Signum 相位掩模，在相对简单的装置中实现了全视场光学空间微分器，并相应命名为 Signum 相位掩模微分显微术。我们方案消除了获取物平面场空间微分所需偏振光的长期必要条件，从而通过将偏振自由度作为微分显微框架中的附加对比剂，催生了定量差分偏振对比成像。所提微分成像方案在高分辨率显微中的实现得到实验演示，同时其适用于宽波长范围的功能也得到展示。在相当基础的光学装置中同时获取差分相位、振幅和偏振（各向异性）梯度成像，使得一种低成本多功能微分显微系统成为可能，预计其将作为无标记成像和光学图像处理的革命性工具而出现。
引用
@article{arxiv.2310.03674,
title = {Signum phase mask differential microscopy},
author = {Jeeban Kumar Nayak and Niladri Modak and Sayan Ghosh and Nirmalya Ghosh},
journal= {arXiv preprint arXiv:2310.03674},
year = {2023}
}