光学层析图中纠缠的特征

我们从理论上研究了在分束器输出模式产生的最大纠缠态的光学层析成像。我们考虑分束器一个输入模式中的偶相干态和奇相干态，以及另一个输入模式中的真空态。我们已经证明，纠缠的特征可以直接在态的光学层析图中观察到，而无需重构系统的密度矩阵。如果输出模式是纠缠的，则基于另一个输出模式中的正交测量，在分束器的任一输出模式中可观察到两种不同类型的光学层析图。光学层析图所展示的不同特征通过研究相应态的光子数统计得以验证。