脉冲太赫兹集成电路中的信号恢复
光学
2010-04-07 v2 数据分析、统计与概率
摘要
本文针对片上应用中使用的脉冲太赫兹集成电路(TIC)提出了一种时域校准流程，传统校准方法在此类应用中不适用。所提出的后检测方法仅通过一次单端口测量即可消除不需要的线性失真，例如干扰回波和频率色散。该方法采用波传输模型分析TIC，并通过所提出的盲估计算法获得模型参数。针对一个已制造的TIC，在片上传感应用中演示了该方法的完整实现。测量信号中感兴趣的特征(如吸收线)可能被TIC中发生的太赫兹信号失真掩盖或削弱。所提出的信号恢复方法改进了对这些原本隐藏特征的检测，并能显著提升现有TIC的性能。为展示所提出的去嵌入方法的有效性，给出了模拟信号和测量信号的数值结果。本文提出的方法可实现精确的TIC应用，并可用于针对特定目的优化设计新型TIC结构。
引用
@article{arxiv.0905.1504,
title = {Signal Recovery in Pulsed Terahertz Integrated Circuits},
author = {Abdorreza Heidari and Mohammad Neshat and Daryoosh Saeedkia and Safieddin Safavi-Naeini},
journal= {arXiv preprint arXiv:0905.1504},
year = {2010}
}
备注
This paper has been withdrawn by the authors.