$D_{(s)}$介子的半轻子衰变

一种在量子场论中保持对称性的介子束缚态连续统方法，曾用于描述众多$\pi$和$K$介子的电弱过程，此处被用来分析$D_{(s)}$介子的轻子与半轻子衰变。每个半轻子跃迁 conventionally 由$t=0$处主导形状因子的值刻画，本文获得如下结果：$f_+^{D_s\to K}(0) = 0.673(40)$；$f_+^{D\to \pi}(0)=0.618(31)$；以及$f_+^{D\to K}(0)=0.756(36)$。利用这些形状因子计算出的$t$依赖性与$|V_{cd}|$、$|V_{cs}|$的标准平均值，可得到如下分支比的预测：${\cal B}_{D_s^+\to K^0 e^+ \nu_e} = 3.31(33)\times 10^{-3}$；${\cal B}_{D^0\to \pi^- e^+ \nu_e} = 2.73(22)\times 10^{-3}$；以及${\cal B}_{D^0\to K^- e^+ \nu_e} = 3.83(28)$%。或者，使用计算出的$t$依赖性，与这些分支比的当代经验结果相符要求$|V_{cd}|=0.221(9)$、$|V_{us}|=0.953(34)$。掌握了所有$D_{(s)}$跃迁形状因子后，可分析此系列过程中SU$(3)$味对称破缺的性质；并且正如在$\pi$-$K$ sector 中一样，此类效应的量级被发现由标准模型中涌现质量生成相关的尺度决定，而非源自希格斯机制的那些尺度。