基于光锥求和规则的半轻子三体质子衰变模式

利用光锥求和规则技术，我们估算了参数化与半轻子三体质子衰变相关的强子矩阵元的形式因子。所得形式因子使我们能确定质子（$p$）衰变为正电子（$e^+$）、中性 pion（$\pi^0$）与引力子（$G$）的微分率，该过程是引力子与标准模型粒子有效理论（GRSMEFT）中的主导质子衰变道。我们研究了现有及下一代中微子实验探测 $p \to e^+ \pi^0 G$ 信号的灵敏度，并讨论了我们的计算对约束压制相关重子数破坏 GRSMEFT 算符的有效质量标度的现象学含义。