通过软件将扫描隧道电位测量集成至多针尖装置
介观与纳米尺度物理
2015-12-08 v2
摘要
我们提出了一种多针尖扫描隧道电位测量技术，无需更改硬件即可集成至现有的多针尖扫描隧道显微镜中。所得装置允许在 UHV 条件下对样品进行灵活的原位接触，随后分别以低至 \AA\ 和 \mu V 的分辨率测量样品形貌和局部电势。通过在 Ag/Si 表面上解析驻波图案，展示了电位测量反馈在热电压测量中的性能。随后，在 Ag/Si 和 Si 表面上展示了绘制由样品表面横向电流引起的局部输运场的能力。
引用
@article{arxiv.1508.07717,
title = {Scanning tunneling potentiometry implemented into a multi-tip setup by software},
author = {F. Lüpke and S. Korte and V. Cherepanov and B. Voigtländer},
journal= {arXiv preprint arXiv:1508.07717},
year = {2015}
}