块体与薄膜中自旋塞贝克效应的标度行为
介观与纳米尺度物理
2018-07-24 v3
摘要
尽管迄今为止已有若干关于自旋塞贝克效应的报道，但所测绝对电压（尤其是薄膜的）的比较受到限制。在本快报中，我们展示了针对 FeO:Pt 薄膜和 YIG:Pt 块体样品相对于热流 J 和温差 T 的自旋塞贝克效应归一化。我们证明这些测量的标准归一化程序未能解释在块体和薄膜中均观测到的测量电压随面积的意外标度关系。最后，我们提出了一种替代的自旋塞贝克系数，用于衬底和样品几何形状无关的自旋塞贝克效应表征。
引用
@article{arxiv.1705.02491,
title = {Scaling of the spin Seebeck effect in bulk and thin film},
author = {K. Morrison and A. J Caruana and C. Cox},
journal= {arXiv preprint arXiv:1705.02491},
year = {2018}
}
备注
23 pages main article and supplementary information