边缘倾角在无标记传感光学微盘谐振腔中的作用
光学
2014-08-19 v1
摘要
本文报告了基于回音壁模式的光学折射率增强传感器的测量与建模。待测器件为生长在氧化硅上的氮化硅光学微谐振腔。在我们的方案中，这些微谐振腔与埋入式波导进行垂直耦合，旨在制造集成化且具成本效益的器件。优化分析需要在谐振品质因数与待测环境中的倏逝场重叠之间取得微妙平衡。数值模拟表明，微盘厚度对于获得高传感器品质因数至关重要，而边缘倾角的影响较小。我们还表明，高达 1600/RIU 的品质因数是可行的。
引用
@article{arxiv.1408.3954,
title = {Role of edge inclination in optical microdisk resonator for label-free sensing},
author = {Davide Gandolfi and Fernando Ramiro-Manzano and Francisco Aparicio Rebollo and Mher Ghulinyan and Georg Pucker and Lorenzo Pavesi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1408.3954},
year = {2014}
}
备注
10 pages