二氧化硅双层的环统计
材料科学
2016-12-14 v1
摘要
近期非晶二氧化硅双层的合成与表征产生了关于环尺寸和分布的有价值的新信息。在本文中，我们将实验样品的环统计与计算机生成的样品进行了比较。平均环尺寸由拓扑结构固定为六，但环边分布的宽度、偏度及其他矩是特定样品的特征。我们考察了量化小环与大环相邻倾向的 Aboav-Weaire 定律，发现现有实验样品的结果相似，但与目前计算机生成的双层略有不同。我们引入了一条关于各种尺寸环面积的新定律。
引用
@article{arxiv.1405.4276,
title = {Ring statistics of silica bilayers},
author = {Avishek Kumar and David Sherrington and Mark Wilson and M. F. Thorpe},
journal= {arXiv preprint arXiv:1405.4276},
year = {2016}
}