重新审视屈曲计量法以确定二维材料的杨氏模量
材料科学
2019-07-18 v2 介观与纳米尺度物理
应用物理
摘要
测量二维材料的力学性质是一项艰巨任务。虽然常规的电学和光学探测技术甚至适用于原子级薄材料，但传统力学测试无法直接应用。因此，需要开发新的力学测试技术。迄今为止，最普遍的方法需要微加工以创建自由悬浮膜，使其实施复杂且昂贵。在此，我们重新审视一种简单而强大的测量薄膜力学性质的技术。不需要制造自由悬浮结构的屈曲计量法，被用于确定几种过渡金属硫族化物（MoS2、MoSe2、WS2 和 WSe2）的杨氏模量，其厚度范围为 3 至 10 层。我们批判性地比较了所获得的杨氏模量值及其不确定性，发现这种简单技术提供的结果与其他高度复杂测试方法报道的结果吻合良好。通过比较文献中不同方法所需的成本、复杂性和时间，屈曲计量法呈现出一定优势，使其成为二维材料一种有趣的力学测试工具。
引用
@article{arxiv.1902.02803,
title = {Revisiting the buckling metrology method to determine the Young's modulus of 2D materials},
author = {Nestor Iguiñiz and Riccardo Frisenda and Rudolf Bratschitsch and Andres Castellanos-Gomez},
journal= {arXiv preprint arXiv:1902.02803},
year = {2019}
}
备注
Main text: 3 figures, 2 tables. Supp Info: 11 figures, 2 tables. This is an author's version (post peer-review)