自旋轨道转矩对几何背向散射的鲁棒性
介观与纳米尺度物理
2019-08-30 v1 量子物理
摘要
我们在本文中表明，具有技术相关性的类场自旋轨道转矩对电子背向散射的几何效应表现出鲁棒性。随着器件尺寸不断缩小，几何形状对自旋转矩等物理性质进而对开关电流的影响，可能对这类器件的持续微缩（所有存储器件（MRAM）的必然趋势）施加物理限制。已有研究表明，曲线的几何效应会影响狄拉克系统与拓扑系统的量子输运和拓扑相变。在我们的工作中，我们排除了线曲率为降低自旋轨道转矩开关有效性带来潜在威胁的可能性。换言之，在电子背向散射事件（常见于现代电子器件沟道中）中，自旋轨道转矩开关将对缺陷周边曲线的影响表现出鲁棒性。
引用
@article{arxiv.1908.11028,
title = {Resilience of the Spin-Orbit Torque against Geometrical Backscattering},
author = {Seng Ghee Tan and Che-Chun Huang and Mansoor B. A. Jalil and Ching-Ray Chang and Szu-Cheng Cheng},
journal= {arXiv preprint arXiv:1908.11028},
year = {2019}
}
备注
13 pages, 2 figures, 1 table