基于残差的 X 射线衍射图谱中峰的定位与量化
应用统计
2008-11-11 v3
摘要
我们考虑由衍射 X 射线辐射的光子计数随衍射角变化的数据。问题在于确定相关峰的位置、强度和形状。额外的困难在于，峰的强度需从基线测量，而该基线本身必须被识别。大多数此类数据的去噪方法并未明确考虑最终估计的模态。我们提出的基于残差的程序使用了所谓的紧致弦方法（taut string method），该方法在积分数据的管约束下最小化峰的数量。基线通过将紧致弦的结果与使用加权平滑样条获得的基线一阶导数估计相结合来识别。最后，每个单独的峰表示为从参数族中选择的核的有限和。
引用
@article{arxiv.0711.3687,
title = {Residual-based localization and quantification of peaks in x-ray diffractograms},
author = {P. L. Davies and U. Gather and M. Meise and D. Mergel and T. Mildenberger},
journal= {arXiv preprint arXiv:0711.3687},
year = {2008}
}
备注
Published in at http://dx.doi.org/10.1214/08-AOAS181 the Annals of Applied Statistics (http://www.imstat.org/aoas/) by the Institute of Mathematical Statistics (http://www.imstat.org)