关于 "High-Tc 超导体中尖锐模式耦合" 的回复
超导电性
2007-05-23 v1
摘要
我们的光学技术具有批量探针优势，较少受到掺杂水平和表面质量不确定性的影响，这与角谱射线能谱 (ARPES) 不同。它还具备更高的能量分辨率且整体噪声水平更低。然而，由于这些差异，我们惊讶于我们报告的光学自能量居然能够准确地跟踪 Johnson 等人 ARPES 自能量的细节。我们的数据表明，随着掺杂水平变化，不仅光学和 ARPES 技术都能分辨出锋利模式与背景，还发现锋利模式强度会均匀减弱，在掺杂水平为 0.23 时完全消失。由于在该掺杂水平处超导性仍然较强（Tc 为 55 K），我们得出结论锋利模式在高温超导性中并非重要贡献者。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0411579,
title = {Reply to "Sharp-mode coupling in High-Tc Superconductors"},
author = {Jungseek Hwang and Thomas Timusk and Genda Gu},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0411579},
year = {2007}
}
备注
Three pages, one figure, reply to Cuk et al. cond-mat/0403743