硅神经元中事件时序的可靠性
神经元与认知
2021-12-30 v1 神经与进化计算
系统与控制
系统与控制
摘要
模拟低压电子学在制造具有空前能效水平的硅神经元（SiNs）方面展现出巨大前景。然而，其固有的对工艺、电压与温度（PVT）变化及噪声的高度敏感性，长期被认为是开发有效神经形态方案的主要瓶颈。受生物物理新皮层神经元中尖峰传递研究的启发，我们证明在模拟 SiNs 中，固有噪声与变异性可与可靠尖峰传递共存，类似于生物神经元。我们在一个近期的爆发神经元神经形态模型上阐明此性质，展示了三种不同相关的可靠事件传递类型：单尖峰传递、爆发传递，以及半中枢振荡器（HCO）网络的开关控制。
引用
@article{arxiv.2112.14134,
title = {Reliability of Event Timing in Silicon Neurons},
author = {Tai Miyazaki Kirby and Luka Ribar and Rodolphe Sepulchre},
journal= {arXiv preprint arXiv:2112.14134},
year = {2021}
}