用于极端变异斑点数据的回归模型
统计方法学
2024-10-15 v1 图像与视频处理
数据分析、统计与概率
仪器与探测器
应用统计
摘要
合成孔径雷达(SAR)是一种高效且广泛使用的遥感工具。然而,来自 SAR 图像的数据被斑点噪声污染,阻止基于假设噪声为 additive 且服从正态分布的技术的应用。描述此类数据最成功的方法之一是乘法模型,其中强度可遵循多种具有正支配的分布。 模型是其中最成功的模型之一。虽然已提出多种用于估计 参数的方法,但没有工作探索该模型的回归结构。这种结构将允许我们从可用数据推断未观察的值。在本工作中,我们提出了一个 回归模型,并用于描述来自其他极化通道强度的影响。我们为新模型推导了一些理论属性:Fisher 信息矩阵、残差度量以及影响工具。提出了最大似然点估计和区间估计方法,并通过蒙特卡洛实验对其进行评估。来自模拟数据和实际数据的结果表明,新模型对 SAR 图像分析有帮助。
引用
@article{arxiv.2410.10482,
title = {Regression Model for Speckled Data with Extremely Variability},
author = {A. D. C. Nascimento and J. M. Vasconcelos and R. J. Cintra and A. C. Frery},
journal= {arXiv preprint arXiv:2410.10482},
year = {2024}
}
备注
29 pages, 6 figures, 3 tables