由能隙求半导体折射率
综合物理
2015-08-17 v1
摘要
本研究提出了一种基于能隙和折射率数据的经验关系，用于计算半导体的折射率。随后将该模型应用于二元和三元半导体，涵盖宽范围能隙。利用该关系，计算了一些 III-V 族半导体的介电常数。对于不同类二元半导体、碱卤化物和三元半导体，计算值在其他计算和已知值范围内在宽能隙范围内相当吻合。计算了一些二元半导体折射率的温度变化。
引用
@article{arxiv.1508.03511,
title = {Refractive Indices of Semiconductors from Energy gaps},
author = {S. K. Tripathy},
journal= {arXiv preprint arXiv:1508.03511},
year = {2015}
}
备注
21 pages, 6 figures