通过 EIT 中的形状优化重构多边形剖分上的分段常数电导率
偏微分方程分析
2018-03-20 v1 数值分析
摘要
在本文中，我们针对电阻抗断层成像（EIT）问题开发了一种基于形状优化的算法，旨在根据边界测量值确定多边形剖分上的分段常数电导率。关键工具是使用合适成本泛函关于剖分移动的分布形状导数。针对二维模拟测试用例，我们给出了展示该方法鲁棒性与精度的数值模拟结果。
引用
@article{arxiv.1707.08413,
title = {Reconstruction of a piecewise constant conductivity on a polygonal partition via shape optimization in EIT},
author = {Elena Beretta and Stefano Micheletti and Simona Perotto and Matteo Santacesaria},
journal= {arXiv preprint arXiv:1707.08413},
year = {2018}
}