Kitaev 自旋液体中晶格拓扑缺陷的实空间手性

我们表明， certain 晶格拓扑缺陷在无能隙 Kitaev 蜂蜻自旋液模型中会产生手性及 Majorana 费米子轨道磁化，其取决于其渲越 flux。我们聚焦于 5-7 错位作为构建块，由五边形和七边形错角构成，鉴别保持可求解性的 Kitaev 键标签配置。通过计算两种局部标记 $M(r)$ 的公式，我们发现 5 和 7 晶格缺陷产生实空间 Chern 数贡献及相关的 Majorana 费米子轨道磁化，比例为 $M(r)$。每一 5/7 缺陷的 $M(r)$ 贡献符号，即其 $q_M=\pm 1$ 手性，由缺陷 Frank 角符号 $F$ 和渲越标量场通量 $W = \pm i$ 通过表达式 $q_M = - i F W$ 决定。尽管晶格曲率和扭转可与周围无能隙背景相互作用以修改 $M(r)$ 的轮廓，但其符号 $q_M$ 仍由局部决定，这表明 Kitaev 自旋液体中的晶格缺陷可产生稳健且可观测的手性。