弥散铁电体 BaSn0.15Ti0.85O3 中的重入现象：局域结构洞察与 FORC 研究
材料科学
2021-11-30 v2
摘要
根据 Lei 等人提出的相图 [J. App. Phys 101, 084105 (2007)]，选取 BaSn0.15Ti0.85O3，其在室温附近呈现立方到菱方 (C-R) 的弥散相变。介电分析确认了室温附近的相变（TC ≈ 290 K），并且观察到介电常数在低温方向的频率色散。极化与一阶反转曲线 (FORC) 表明该系统在低温下处于重入相。综合来看，这些电学表征结果均指向重入相中的弛豫体行为。采用 X 射线吸收近边结构谱、拉曼谱和穆斯堡尔谱等局域探针技术，研究该低温介电反常区域周围的局域环境变化。基于这些结果，提出了一个解释低温重入行为的简单铁电交换模型。
引用
@article{arxiv.2107.08261,
title = {Re-entrant phenomenon in diffuse ferroelectric, $BaSn_{0.15}Ti_{0.85}O_{3}$ : Local structural insights and FORC study},
author = {Akash Surampalli and Ramon Egli and Deepak Prajapat and Carlo Meneghini and V. Raghavendra Reddy},
journal= {arXiv preprint arXiv:2107.08261},
year = {2021}
}
备注
11 pages, 8 figures