基于相关匹配法的光谱特征快速测量
仪器与探测器
2015-12-03 v1 光学
摘要
本文建立了由光谱仪、CCD 与计算机组成的耦合系统，并提出了一种利用相关匹配方法对数字光谱进行图像识别，从而快速测量材料光谱特征（如中心波长、相对强度、灵敏线以及光谱图像的波长范围和图像像素）的方法。
引用
@article{arxiv.1512.00741,
title = {Rapid Measurement of Spectral Characteristics by Correlation Matching Method},
author = {Chol-Sun Kim and Chol-Su Kim and Song-Jin Im},
journal= {arXiv preprint arXiv:1512.00741},
year = {2015}
}