存在时间关联退相位噪声时的随机基准测试
量子物理
2021-02-24 v1
摘要
随机基准测试已成为一种流行且易于实现的实验技术，用于评估量子计算设备中门操作的质量。典型的随机基准测试过程识别随着基准测试门序列长度增加时保真度的指数衰减，并利用衰减率来估计门的保真度。然而，保真度呈指数衰减依赖于门中时间无关或静态噪声的假设，即噪声在门序列上无关联或显著漂移，这在许多情形下是良好满足的条件。不过，已观察到对标准指数衰减的偏离，通常归因于噪声中某种程度的时间关联，尽管偏离的精确机制尚待充分探究。在这项工作中，我们考察了时间关联噪声——具体为可精确求解的时间关联退相位噪声——下的随机基准测试问题，并阐明了在何种情况下可预期对指数衰减的偏离。
引用
@article{arxiv.2010.11498,
title = {Randomized benchmarking in the presence of time-correlated dephasing noise},
author = {Jiaan Qi and Hui Khoon Ng},
journal= {arXiv preprint arXiv:2010.11498},
year = {2021}
}