利用随机基准测试对超低相位噪声进行量子比特计量

P. J. J. O'Malley; J. Kelly; R. Barends; B. Campbell; Y. Chen; Z. Chen; B. Chiaro; A. Dunsworth; A. G. Fowler; I. -C. Hoi; E. Jeffrey; A. Megrant; J. Mutus; C. Neill; C. Quintana; P. Roushan; D. Sank; A. Vainsencher; J. Wenner; T. C. White; A. N. Korotkov; A. N. Cleland; John M. Martinis

doi:10.1103/PhysRevApplied.3.044009

利用随机基准测试对超低相位噪声进行量子比特计量

量子物理 2016-05-31 v3 介观与纳米尺度物理超导电性

作者: P. J. J. O'Malley , J. Kelly , R. Barends , B. Campbell , Y. Chen , Z. Chen , B. Chiaro , A. Dunsworth , A. G. Fowler , I. -C. Hoi , E. Jeffrey , A. Megrant , J. Mutus , C. Neill , C. Quintana , P. Roushan , D. Sank , A. Vainsencher , J. Wenner , T. C. White , A. N. Korotkov , A. N. Cleland , John M. Martinis

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摘要

在多个时间尺度上精确测量退相干对于将量子门误差降低至纠错阈值以下至关重要。我们提出了一种基于随机基准测试的计量工具，该工具通过重复但非相干地叠加相位噪声，能够大幅提高 Ramsey 和自旋回波序列的精度。我们发现，基于 SQUID 的量子比特在短时间尺度上不受 $1/f$ 通量噪声的限制，而是观察到一种电报噪声机制，该机制不适于用标准测量技术进行研究。

关键词

量子比特计量随机基准测试相位噪声 Ramsey 序列自旋回波 SQUID 电报噪声通量噪声

引用

@article{arxiv.1411.2613,
  title  = {Qubit metrology of ultralow phase noise using randomized benchmarking},
  author = {P. J. J. O'Malley and J. Kelly and R. Barends and B. Campbell and Y. Chen and Z. Chen and B. Chiaro and A. Dunsworth and A. G. Fowler and I. -C. Hoi and E. Jeffrey and A. Megrant and J. Mutus and C. Neill and C. Quintana and P. Roushan and D. Sank and A. Vainsencher and J. Wenner and T. C. White and A. N. Korotkov and A. N. Cleland and John M. Martinis},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1411.2613},
  year   = {2016}
}

备注

11 pages, 7 figures

利用随机基准测试对超低相位噪声进行量子比特计量

摘要

关键词

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