金属单壁碳纳米管中的随机电报噪声
介观与纳米尺度物理
2014-05-15 v1
摘要
我们研究了在单个金属碳纳米管(CNT)中观察到的随机电报噪声(RTN)。研究了高、低电流态的平均寿命τhigh和τlow随偏压、栅压以及温度的变化。通过分析RTN的统计特性和特征，我们认为该噪声源于缺陷在两个亚稳态之间的随机跃迁，该跃迁由传导电子的非弹性散射激活。我们的结果表明缺陷运动在碳纳米管的1/f噪声中起着重要作用。
引用
@article{arxiv.1405.3398,
title = {Random telegraph noise in metallic single-walled carbon nanotubes},
author = {Hyun-Jong Chung and Tae Woo Uhm and Sung Won Kim and Young Gyu You and Sang Wook Lee and Sung Ho Jhang and Eleanor E. B. Campbell and Yung Woo Park},
journal= {arXiv preprint arXiv:1405.3398},
year = {2014}
}
备注
4 pages