LOFT 硅漂移探测器的辐射测试
天体物理仪器与方法
2019-08-15 v1 仪器与探测器
摘要
在作为 ESA“宇宙愿景”计划 M3 发射机会候选者的 LOFT 任务为期三年的评估阶段，我们估算并测量了卫星仪器中硅漂移探测器（SDDs）的辐射损伤。具体而言，我们用质子（能量为 0.8 和 11 MeV）照射探测器，以研究由位移损伤引起的漏电流增加和电荷收集效率的变化；此外，我们用超高速尘埃颗粒“轰击”探测器，以测量碎片撞击的影响。本文描述了这些测量结果，并在 LOFT 任务的背景下讨论了这些结果。
引用
@article{arxiv.1408.6548,
title = {Radiation tests of the Silicon Drift Detectors for LOFT},
author = {E. Del Monte and P. Azzarello and E. Bozzo and S. Bugiel and S. Diebold and Y. Evangelista and E. Kendziorra and F. Muleri and E. Perinati and A. Rachevski and G. Zampa and N. Zampa and M. Feroci and M. Pohl and A. Santangelo and A. Vacchi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1408.6548},
year = {2019}
}
备注
Proc. SPIE 9144, Space Telescopes and Instrumentation 2014: Ultraviolet to Gamma Ray, 914464