固态器件中辐射诱导的二次发射作为超导电路准粒子中毒的可能贡献
应用物理
2023-01-20 v1 超导电性
摘要
本报告估算了电离辐射诱导的二次发射过程导致超导电路中准粒子生成的可能性。这些估算基于对一个小型超导探测器收集数据的评估以及对典型读出电路板材料的荧光测量。具体而言，我们研究宇宙线μ子与超导电路附近存在的衬底或机械支撑材料相互作用。我们评估这些邻近材料发生二次发射（如闪烁和/或荧光）的潜力，其能量（波长）与速率（光子通量）是否足以最终导致超导铜对（即准粒子的产生）的断裂。该评估得出结论：超导电路附近的荧光是不良升高准粒子群体的潜在贡献因素。评估超导电路设计及电路紧邻材料环境的协同设计方法，将有益于减轻环境诱导的对超导器件性能的不利影响，例如直接探测暗物质传感器或量子计算比特（qubits）中的影响。
引用
@article{arxiv.2301.08239,
title = {Radiation-induced secondary emissions in solid-state devices as a possible contribution to quasiparticle poisoning of superconducting circuits},
author = {Francisco Ponce and John L. Orrell and Zheming Wang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2301.08239},
year = {2023}
}
备注
5 pages, 4 figures