共振 X 射线散射中重费米子的准粒子干涉
强关联电子
2016-10-25 v1
摘要
共振 X 射线散射（RXS）最近已成为研究关联电子系统中有序现象的重要工具。然而，由于 RXS 截面的复杂性，对 RXS 实验的解释在理论上仍具挑战性。这场辩论的核心是一项近期提议，即由杂质引起的 Friedel 振荡（类似于用扫描隧道显微镜（STM）观察到的准粒子干涉信号）可以在 RXS 实验中导致散射峰。准粒子性质可以在 RXS 测量中被探测的可能性，为利用 RXS 提供的轨道和元素选择性来研究材料的体态能带结构开辟了新途径。在此，我们通过结合对重费米子化合物 CeMIn（M = Co, Rh）的 RXS 和 STM 测量来检验这些想法。在 Ce-M 边处的温度和掺杂依赖的 RXS 测量显示了一个宽散射增强，这与这些化合物中重 f 电子能带的出现相关联。该散射增强与 STM 测量中观察到的准粒子干涉信号一致，表明可以通过 RXS 信号的动量分布来探测准粒子干涉。总体而言，我们的实验展示了利用 RXS 技术研究关联电子系统的新机遇。
引用
@article{arxiv.1609.05900,
title = {Quasiparticle interference of heavy fermions in resonant X-ray scattering},
author = {Andras Gyenis and Eduardo H. da Silva Neto and Ronny Sutarto and Enrico Schierle and Feizhou He and Eugen Weschke and Mariam Kavai and Ryan E. Baumbach and Joe D. Thompson and Eric D. Bauer and Zachary Fisk and Andrea Damascelli and Ali Yazdani and Pegor Aynajian},
journal= {arXiv preprint arXiv:1609.05900},
year = {2016}
}
备注
accepted to Science Advances