辐射诱导效应对 RD53A 像素读出芯片数据完整性与链路稳定性的影响
仪器与探测器
2019-09-04 v3
摘要
LHC 的二期升级将需要新型像素读出芯片，其以大幅提高的数据速率提供击中信息，并耐受前所未有的辐射水平。RD53 合作组设计了大规模原型芯片 RD53A，并采用 65 nm CMOS 工艺制造，适用于 ATLAS 和 CMS 实验的最内层。为验证 500 Mrad 总电离剂量下的辐射加固设计目标，使用 X 射线对 RD53A 进行了辐照。研究了辐射对数据链路、复位电路和时钟生成性能的影响。此外，分析了电源电压和频率方面的工作裕度。
引用
@article{arxiv.1903.08010,
title = {Radiation-induced Effects on Data Integrity and Link Stability of the RD53A Pixel Readout Chip},
author = {M. Vogt},
journal= {arXiv preprint arXiv:1903.08010},
year = {2019}
}