基于线路中测量的 qutrit 态判别
量子物理
2023-09-21 v1
摘要
qutrit 态读出是一项重要技术，不仅用于 qutrit 算法的执行，也用于纠错电路中的擦除检测以及门集的泄漏误差表征。使用专用 IQ 判别器的传统技术需要内存密集的 IQ 数据作为输入，并且难以扩展系统规模。在本研究中，我们提出基于线路中测量（mid-circuit measurement）的判别技术，其利用用于 qubit 读出的二进制判别器。我们的判别器展现出与 IQ 判别器相当的性能，并且可直接用于为标准 qubit 控制而校准的量子处理器。我们还展示了我们的技术能够重新实现典型的基准测试与表征实验，例如泄漏随机基准测试（leakage randomized benchmarking）与态布居衰减测量。
引用
@article{arxiv.2309.11303,
title = {Qutrit state discrimination with mid-circuit measurements},
author = {Naoki Kanazawa and Haruki Emori and David C. McKay},
journal= {arXiv preprint arXiv:2309.11303},
year = {2023}
}
备注
8 pages, 5 figures