作为测量量子点电子结构光谱方法的量子速率技术

纳米尺度实体（如分子和量子点）的电子结构决定了基于其组装的自底向上制备器件的性能与性质。因此，能够解析这类纳米材料（量子点即其中特例）电子态密度的简单快速实验方法，对于人工纳米界面与纳米电子学的发展至关重要。本工作中，我们提出量子速率光谱方法（并介绍该技术的物理基础），作为在室温与环境压力条件下解析零维（量子点）结构电子结构的工具。该方法比基于扫描隧道显微镜的传统方法更简单。该基于量子速率理论的光谱方法在 CdTe 量子点上得到演示，并用于测量谱图，所得离散能级与隧道显微镜测量一致。