利用单引线量子点快速探测纳米结构中的局域电子态
介观与纳米尺度物理
2016-10-10 v1
摘要
输运测量是探测固态材料电子特性的有力工具。为了获取纳米结构中局域电子态的特性，如局域态密度、电子分布等，除了使用传统的宏观电子库进行测量外，人们还发明了利用人工纳米结构的微型探针。在此，我们展示一种新型微型探针：快速单引线量子点探针，它利用仅通过隧穿势垒与目标结构耦合的量子点，并通过射频反射计进行快速电荷读出。该探针能以宽带宽直接访问局域电子态。它还能访问更多电子态，而不仅仅是费米能级附近的那些，并且其操作对偏压和温度具有鲁棒性。
引用
@article{arxiv.1610.02310,
title = {Fast probe of local electronic states in nanostructures utilizing a single-lead quantum dot},
author = {Tomohiro Otsuka and Shinichi Amaha and Takashi Nakajima and Matthieu R. Delbecq and Jun Yoneda and Kenta Takeda and Retsu Sugawara and Giles Allison and Arne Ludwig and Andreas D. Wieck and Seigo Tarucha},
journal= {arXiv preprint arXiv:1610.02310},
year = {2016}
}
备注
6 pages, 6 figures