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表面起伏引起涡旋钉扎所致临界电流的定量分析

超导电性 2009-11-10 v1

作者: Alain Pautrat , J. Scola , C. Goupil , Ch. Simon , C. Villard , B. Domenges , Y. Simon , Ch. Guilpin , L. Mechin

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摘要

在很大范围的磁场内测量了 Niobium (Nb) 厚膜的传输临界电流。其数值与变化在由于粗糙表面边界条件引起的涡旋钉扎框架内得到了定量描述，其中接触角可以由表面粗糙度的谱分析很好地解释。使用聚焦离子束增加表面粗糙度同样导致了表面临界电流的增加。

关键词

临界电流涡旋钉扎表面起伏 Niobium 膜表面粗糙度聚焦离子束

引用

@article{arxiv.cond-mat/0404332,
  title  = {Quantitative analysis of the critical current due to vortex pinning by surface corrugation},
  author = {Alain Pautrat and J. Scola and C. Goupil and Ch. Simon and C. Villard and B. Domenges and Y. Simon and Ch. Guilpin and L. Mechin},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0404332},
  year   = {2009}
}

备注

accepted for publication in Phys Rev B